kasih ibu sepanjang masa, kasih anak sepenggal saja..
hsshhh sepertinya pepatah itu memang benar. apapun rela dilakukannya, demi apa?
cuma demi harga diri anaknya. sehina apapun anaknya pasti dibela mati-matian.
pantes aja kalo bliau-bliau tuh dijanjiin syurgaa...
subhanallah yaaa.. sabar rasa ibu beli dimana yaakk biar kuota sabarnya tetep awettt???
ya kalii beli stok sabar, hahaha
emang dasarnya manusia, srakah itu pasti ada, apalagi rasa "kurang nriman"
duhh ampun emang kalo kena yang begituan, na'udzubillah dah yaakk.
mangkanya buat kita semua, ga cuma penulis tapii semuuuuaaa readersss bloger akyuu *eh kok alay gini? #krikk
pokoknya buat semua readers bloger oret oretan ini perlu dipahami dan ditancapkan dalam otak beserta hati masing-masing. yang namaya orang tua itu gak ada istilah mantan bapak/ibuk, mantan ayah bunda dan mantan apalah itu sebutannya. dipikir lagi deh kalo mau jatuhin air mata orang tua. apalagii air mata ibu. pengorbanannya itu lo yang ga nguati.. duhh sampe kalo ditimbang itu ga ada yang sepadan. bagi kalian-kalian yang masih punya bapak ibu baik utuh maupun enggak, saran ku cuma satu "EMANEN". selagi masih bisa membuat mereka tersenyum. karena kalo disenyumin sama orang tua apalagi senyum bangga terhadap kita, rasanya tu cesssss di ati subhanallah pokok e.
oret oretan
Kamis, 10 September 2015
Rabu, 12 Agustus 2015
for you, gaes
namanya juga cari pengalaman kerja..
new comer, newbie, hahahaaa pendatang baru, kamu itu anak kemarin sore..
apa an sih jadi malah ga jelas gini issshhh..
oke curcol.. ehmm ga sih, lebih kepada ceeerrriittaaa..
yah namanya juga first time salah.salah gapapa laa tapi ya jangan salah terus kalee hehe
ngingetin oke ngingetin, manis bole manis tapi jangan didepan doang ya manisnya..
dari kena putusan agung, protes sana sini, cerita ngalor ngidul yang entah tak tau mana yang benar..
hosshhhh stay wae brohhh ojo baper, is oke wae lah.
tapi asik si, bisa jadi pengalaman, bisa jadi cerita buat anak cucu ntar.
ada yang clometan kayak saya dlu pas masih sekolah, ada yang tukang modus.
ada yang manutttt nemen, ada yang medium lah..
seneng si, tapi kadang njengkelno jugak.
senang berbagi ilmu dengan kalian, senang menjadi rekan kerja kalian. senang bisa bercengkrama dengan kalian. nice to meet you pokok e..
terimakasih suda menjadi bagian hidup saya..
saya sayang kalian gaesss
new comer, newbie, hahahaaa pendatang baru, kamu itu anak kemarin sore..
apa an sih jadi malah ga jelas gini issshhh..
oke curcol.. ehmm ga sih, lebih kepada ceeerrriittaaa..
yah namanya juga first time salah.salah gapapa laa tapi ya jangan salah terus kalee hehe
ngingetin oke ngingetin, manis bole manis tapi jangan didepan doang ya manisnya..
dari kena putusan agung, protes sana sini, cerita ngalor ngidul yang entah tak tau mana yang benar..
hosshhhh stay wae brohhh ojo baper, is oke wae lah.
tapi asik si, bisa jadi pengalaman, bisa jadi cerita buat anak cucu ntar.
ada yang clometan kayak saya dlu pas masih sekolah, ada yang tukang modus.
ada yang manutttt nemen, ada yang medium lah..
seneng si, tapi kadang njengkelno jugak.
senang berbagi ilmu dengan kalian, senang menjadi rekan kerja kalian. senang bisa bercengkrama dengan kalian. nice to meet you pokok e..
terimakasih suda menjadi bagian hidup saya..
saya sayang kalian gaesss
Kamis, 30 April 2015
SINAU XRF (X-Ray Fluoroscence)
XRF (X-ray fluorescence spectrometry) merupakan teknik analisa non-destruktif yang digunakan untuk identifikasi serta penentuan konsentrasi elemen yang ada pada padatan, bubuk ataupun sample cair. XRF mampu mengukur elemen dari berilium (Be) hingga Uranium pada level trace element, bahkan dibawah level ppm. Secara umum, XRF spektrometer mengukur panjang gelombang komponen material secara individu dari emisi flourosensi yang dihasilkan sampel saat diradiasi dengan sinar-X (PANalytical, 2009).
Teknik f luoresensi sinar x (XRF) merupakan suatu teknik analisis yang dapat menganalisa unsur-unsur yang membangun suatu material. Teknik ini juga dapat digunakan untuk menentukan konsentrasi unsur berdasarkan pada panjang gelombang dan jumlah sinar x yang dipancarkan kembali setelah suatu material ditembaki sinar x berenergi tinggi. Metode XRF secara luas digunakan untuk menentukan komposisi unsur suatu material. Karena metode ini cepat dan tidak merusak sampel, metode ini dipilih untuk aplikasi di lapangan dan industri untuk kontrol material. Tergantung pada penggunaannya, XRF dapat dihasilkan tidak hanya oleh sinar-X tetapi juga sumber eksitasi primer yang lain seperti partikel alfa, proton atau sumber elektron dengan energi yang tinggi (Viklund,2008).
Setiap
teknik analisa memiliki kelebihan serta kekurangan, beberapa kelebihan lain
dari XRF :
·
Cukup mudah, murah dan analisanya
cepat
·
Jangkauan elemen Hasil analisa
akurat
·
Membutuhan sedikit sampel pada
tahap preparasinya(untuk Trace elemen)
·
Dapat digunakan untuk analisa
elemen mayor (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P) maupun tace elemen (>1
ppm; Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn)
Beberapa
kekurangan lain dari XRF :
·
Tidak cocok untuk analisa element
yang ringan seperti H dan He
·
Analisa sampel cair membutuhkan
Volume gas helium yang cukup besar
Preparasi sampel biasanya membutuhkan waktu yang cukup
lama dan memebutuhkan perlakuan yang banyak.
Apabila terjadi eksitasi sinar-X primer yang berasal dari
tabung X ray atau sumber radioaktif mengenai sampel, sinar-X dapat diabsorpsi
atau dihamburkan oleh material. Proses dimana sinar-X diabsorpsi oleh atom
dengan mentransfer energinya pada elektron yang terdapat pada kulit yang lebih
dalam disebut efek fotolistrik. Selama proses ini, bila sinar-X primer memiliki
cukup energi, elektron pindah dari kulit yang di dalam menimbulkan kekosongan.
Kekosongan ini menghasilkan keadaan atom yang tidak stabil. Apabila atom
kembali pada keadaan stabil, elektron dari kulit luar pindah ke kulit yang
lebih dalam dan proses ini menghasilkan energi sinar-X yang tertentu dan
berbeda antara dua energi ikatan pada kulit tersebut. Emisi sinar-X dihasilkan
dari proses yang disebut X Ray Fluorescence (XRF). Proses deteksi dan analisa
emisi sinar-X disebut analisa XRF. Pada umumnya kulit K dan L terlibat pada
deteksi XRF. Sehingga sering terdapat istilah Kα dan Kβ serta Lα dan Lβ
pada XRF. Jenis spektrum X ray dari sampel yang diradiasi akan menggambarkan
puncak-puncak pada intensitas yang berbeda (Viklund,2008).
Berikut
gambar yang menjelaskan nomenclature yang
terdapat pada XRF (Stephenon,2009) :
Gambar diatas menggambarkan prinsip pengukuran
dengan menggunaan XRF (Gosseau,2009.)
SKEMA CARA KERJA ALAT
CONTOH XRF
Jenis XRF
Jenis XRF yang pertama adalah WDXRF (Wavelength-dispersive X-ray Fluorescence) dimana dispersi
sinar-X didapat dari difraksi dengan menggunakan analyzer yang berupa cristal yang berperan sebagai grid. Kisi
kristal yang spesifik memilih panjang gelombang yang sesuai dengan hukum bragg
(PANalytical, 2009).
Dengan
menggunakan WDXRF spektrometer (PANalytical, 2009):
·
aplikasinya luas dan beragam.
·
Kondisi pengukuran yang optimal
dari tiap – tiap elemen dapat diprogram.
·
Analisa yang sangat bagus untuk
elemen berat.
·
Sensitivitas yang sangat tinggi
dan limit deteksi yang sangat rendah
Gambar
berikut menggambarkan prinsip kerja WDXRF(Gosseau,2009.)
Sampel yang terkena radiasi sinar-X akan mengemisikan
radiasi ke segala arah. Radiasi dengan dengan arah yang spesifik yang dapat
mencapai colimator. Sehingga refleksi sinar radiasi dari kristal kedetektor
akan memberikan sudut θ. Sudut ini akan terbentuk jika, panjang gelombang yang
diradiasikan sesuai dengan sudut θ dan sudut 2θ dari kisi kristal. Maka hanya
panjang gelombang yang sesuai akan terukur oleh detektor. Karena sudut refleksi
spesifik bergantung panjang gelombang, maka untuk pengukuran elemen yang
berbeda, perlu dilakukan pengaturan posisi colimator, kristal serta detektor
(Gosseau,2009).
Jenis XRF yang kedua adalah EDXRF. EDXRF (Energy-dispersive X-ray Fluorescence) spektrometri
bekerja tanpa menggunakan kristal, namun menggunakan software yang
mengatur seluruh radiasi dari sampel kedetektor (PANalytical, 2009). Radiasi
Emisi dari sample yang dikenai sinar-X akan langsung ditangkap oleh detektor.
Detektor menangkap foton – foton tersebut dan dikonversikan menjadi
impuls elektrik. Amplitudo dari impuls elektrik tersebut bersesuaian dengan
energi dari foton – foton yang diterima detektor. Impuls kemudian menuju sebuah
perangkat yang dinamakan MCA (Multi-Channel
Analyzer) yang akan memproses impuls tersebut. Sehingga akan terbaca
dalam memori komputer sebagai channel. Channel tersebut
yang akan memberikan nilai spesifik terhadap sampel yang dianalisa. Pada XRF
jenis ini, membutuhkan biaya yang relatif rendah, namun keakuratan berkurang.
(Gosseau,2009).
Gambar
berikut mengilustrasikan prinsip kerja EDXRF (Gosseau,2009):
contoh spektra hasil uji XRF.
DAFTAR
PUSTAKA
·
Gosseau,D., 2009,Introduction to XRF Spectroscopy,
(Online), http://users.skynet.be/,
diakses tanggal 30 September 2009
·
PANalytical B.V., 2009, X-ray Fluorescence Spectrometry,
(Online),http://www.panalytical.com/index.cfm?pid=130,
dakses tanggal 30 September 2009
·
Viklund, A.,2008, Teknik Pemeriksaan Material Menggunakan
XRF, XRD dan SEM-EDS, (Online),http://labinfo.wordpress.com/,
diakses tanggal 30 September 2009
http://file.upi.edu/Direktori/FPMIPA/JUR._PEND._KIMIA/196808031992031-AGUS_SETIABUDI/Bahan_Kuliah_Karakterisasi_Material/BAb_4_Teknik_XRF.pdf
Langganan:
Postingan (Atom)